
描述
- ■型号:APS8000-A
- ■APS8000-A 是增强型自动探针台,为芯片提供测量功能。
- ■具备强大的芯片适配能力,可支持 8 寸芯片的精准测量。
- ■软件系统智能高效,拥有自动扫平功能,能快速校准测量平面,极大提升测量起始阶段的效率。
- ■指定定位首粒功能更是精准无比,能够依据设定要求,快速锁定芯片上的首粒测量点。
- ■针对光敏器件测试,特别配备遮光罩,避免外界光线干扰,确保光敏器件测试结果的准确性。
- ■在打点操作方面,同时支持在线与离线两种模式,满足不同场景下的标记需求。
- ■设备还具备出色的兼容性,允许第三方测试系统对本探针台的运动位置进行控制,为构建多元化、集成化的测试环境提供了便利,有效拓展了设备的应用范围。
- ■支持仪表软件定制开发。
规格参数
性能参数 | 技术指标 | |
---|---|---|
可测片径 | 4″、5″、6″、8″ | |
软件智能 | 扫平(对准) | 软件自动扫平对准 |
定位(首粒) | 软件自动定位首粒 | |
工作台 | 定位精度 | ≤±0.015mm |
进步分辨率 | 0.001mm | |
承片台 | Z向行程 | 8mm |
Z向定位精度 | ≤±0.005mm | |
Z向分辨率 | 0.001mm | |
θ向调节范围 | ±10° | |
θ向分辨率 | 0.001° | |
观察装置 | 双目体视显微镜 ,放大倍数7.5X~45X | |
遮光罩装置 | 选配 | |
上、下片方式 | 手动方式 | |
外形尺寸 | 750mm×700mm×1500mm(宽×深×高) | |
使用环境 | 电源 | AC 220V±22V 50Hz±1Hz |
功率 | <0.8KW | |
真空 | < -80 KPa | |
温度 | 10ºC-30ºC | |
湿度 | <60% |
